服務熱線
13651773242
上海求峰儀器設備有限公司由具有多年半導體經驗的資深技術團隊發起，專注于半導體光刻及曝光、膜厚測量、缺陷檢測、電性測量、應力測量等，我們立志成為半導體光刻Litho、量測Metrology和檢測Inspection的專業級供應商，為科研、前道工藝開發、封裝、光刻膠、硅片/化合物半導體襯底和外延等領域貢獻力量。...
查看詳情 >>
2023年2月，我司取得南京某光電企業一臺SR-C膜厚儀訂單，波段380-1650nm，用于膜厚和反射率工藝監控。...
2022年9月，我司成交一臺FSM 128L薄膜應力儀，最大可測12寸Wafer，可測量薄膜的Stress/Bow。...
2022年3月，我司成交一臺333A四探針測試儀，最大可測12寸Wafer，可測量金屬薄膜厚度及方塊電阻。...
2022年8月，我司成交一臺SE-VM光譜橢偏儀，波長380-1650nm，用于VCSEL光芯片中薄膜厚度和折射率測量。...
2022年10月，我司成交一臺KC-31空氣粒子計數器，適合監控千級無塵室顆粒狀況。...
如果您有任何問題，請跟我們聯系！
聯系我們
Copyright ? 2022 上海求峰儀器設備有限公司 滬ICP備2022031662號-1
地址：上海市閔行區興梅路1199弄40號樓
